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静电复印显影剂用纳米四氧化三铁
纳米四氧化三铁（Fe3O4）粉体，具有磁性，且在外磁场下能够定向移动，粒径在一定范围之内具有超顺磁性，以及在外加交变电磁场作
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2024-12-09 |
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特种涂料用纳米四氧化三铁
纳米四氧化三铁（Fe3O4）粉体，具有磁性，且在外磁场下能够定向移动，粒径在一定范围之内具有超顺磁性，以及在外加交变电磁场作
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2024-12-09 |
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微波吸收材料用纳米四氧化三铁
纳米四氧化三铁（Fe3O4）粉体，具有磁性，且在外磁场下能够定向移动，粒径在一定范围之内具有超顺磁性，以及在外加交变电磁场作
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2024-12-09 |
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高梯度磁分离器用纳米四氧化三铁
纳米四氧化三铁（Fe3O4）粉体，具有磁性，且在外磁场下能够定向移动，粒径在一定范围之内具有超顺磁性，以及在外加交变电磁场作
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2024-12-09 |
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磁记录材料用纳米四氧化三铁
纳米四氧化三铁（Fe3O4）粉体，具有磁性，且在外磁场下能够定向移动，粒径在一定范围之内具有超顺磁性，以及在外加交变电磁场作
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2024-12-09 |
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气敏元件材料用纳米二氧化锡
UG-S20;UG-S50纯 度：光谱法分析测试杂质含量。晶粒度：X衍射（XRD）线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度：GB/T13221纳米粉末粒度分
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2024-12-07 |
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银锡触头材料用纳米二氧化锡
UG-S20;UG-S50纯 度：光谱法分析测试杂质含量。晶粒度：X衍射（XRD）线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度：GB/T13221纳米粉末粒度分
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2024-12-07 |
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抗静电材料用纳米二氧化锡
UG-S20;UG-S50纯 度：光谱法分析测试杂质含量。晶粒度：X衍射（XRD）线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度：GB/T13221纳米粉末粒度分
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2024-12-07 |
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